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Patente

 

Patente 2017:

 

Lu, M.:
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2017 002 419.7,
Anmeldedatum: 14.03.2017.

Müller, M.S.:
Faseroptischer Drucksensor und Verfahren.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 115 926 A1,
Anmeldedatum: 21.09.2015,
Veröffentlichungsdatum: 23.03.2017.

Müller, M.S.:
Faseroptischer Drucksensor und Verfahren.
Internationale Patentanmeldung WO 2017/050765 A1, PCT/EP 2016/072307,
Anmeldedatum: 20.09.2016,
Veröffentlichungsdatum: 30.03.2017.

Müller, M.S.:
Faseroptischer Temperatursensor und Herstellungsverfahren für einen faseroptischen Temperatursensor.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 115 928 A1,
Anmeldedatum: 21.09.2015,
Veröffentlichungsdatum: 23.03.2017.

Müller, M.S.:
Verfahren und Vorrichtung zur Funktionsprüfung eines faseroptischen Sensors und Computerprogrammprodukt.
Deutsches Patent: DE 10 2016 117 691 B3,
Anmeldedatum: 20.09.2016,
Veröffentlichungsdatum der Patenterteilung: 03.08.2017.

Müller, M.S.; Schauß, T.; Rieger, F.:
Verfahren zum Ermitteln eines Werts für eine Eisansatzmenge an mindestens einem Rotorblatt einer Windkraftanlage und dessen Verwendung.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 122 933 A1,
Anmeldedatum: 29.12.2015,
Veröffentlichungsdatum: 13.07.2017.

Müller, M.S.; Zelenka, F.:
Lichtleiter-Einspannvorrichtung, faseroptischer Sensor und Herstellungsverfahren.
Internationale Patentanmeldung WO 2017/050767 A1, PCT/EP 2016/072309,
Anmeldedatum: 20.09.2016,
Veröffentlichungsdatum: 30.03.2017.

Müller, M.S.; Zelenka, F.:
Sensorpatch und Verfahren zum Herstellen eines Sensorpatches.
Internationale Patentanmeldung WO 2017/050766 A1, PCT/EP 2016/072308,
Anmeldedatum: 20.09.2016,
Veröffentlichungsdatum: 30.03.2017.

Müller, M.S.; Zelenka, F.:
Sensorpatch und Verfahren zum Herstellen eines Sensorpatches.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 115 927 A1,
Anmeldedatum: 21.09.2015,
Veröffentlichungsdatum: 06.04.2017.

Tremmel, A.; Rauscher, M.S.:
Device and method for chromatic confocal examination of a sample.
Internationale Patentanmeldung WO 2017/045982 A1, PCT/EP 2016/071056,
Anmeldedatum: 07.09.2016,
Veröffentlichungsdatum: 23.03.2017.

Tremmel, A.; Rauscher, M.S.:
Vorrichtung und Verfahren zur chromatisch-konfokalen Untersuchung einer Probe.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 115 615 A1,
Anmeldedatum: 16.09.2015,
Veröffentlichungsdatum: 16.03.2017.

Wang, S.:
Speckle-Messtechnik.
Europäische Patentanmeldung EP 17 XXX XXX.X,
Anmeldedatum: 30.03.2017.

Wang, S.:
Speckle-Messtechnik 2.
Europäische Patentanmeldung EP 17 XXX XXX.X,
Anmeldedatum: 30.03.2017.


Patente 2016:

 

Graf, M.A.:
Vorrichtung zur dynamischen Integration von faseroptischer Sensorik in Fasergeflechte.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2016 008 898.2,
Anmeldedatum: 25.07.2016.

Müller, M.S.:
Faseroptischer Drucksensor und Verfahren.
Internationale Patentanmeldung WO 2017/050765 A1, PCT/EP 2016/072307,
Anmeldedatum: 20.09.2016,
Veröffentlichungsdatum: 30.03.2017.

Müller, M.S.:
Verfahren und Vorrichtung zur Funktionsprüfung eines faseroptischen Sensors und Computerprogrammprodukt.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2016 117 691.5,
Anmeldedatum: 20.09.2016,
Veröffentlichungsdatum der Patenterteilung: 03.08.2017.

Müller, M.S.; Glück, M.:
Schienenmesssystem.
Deutsches Patent DE 10 2014 100 653 B4,
Anmeldedatum: 21.01.2014,
Veröffentlichungsdatum: 23.07.2015,
Tag der Patenterteilung: 21.01.2016.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Method for the individual pitch control of rotor blades of a wind turbine, and wind turbines.
Internationale Patentanmeldung WO 2016/087455 A1, PCT / EP2015/078237,
Anmeldedatum: 01.12.2015,
Veröffentlichungsdatum: 09.06.2016.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Verfahren zur Erfassung einer Torsionsinstabilität eines Rotorblatts einer Windkraftanlage und Profil für ein Rotorblatt.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 117 914 A1,
Anmeldedatum: 04.12.2014,
Veröffentlichungsdatum: 09.06.2016.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Verfahren zur individuellen Pitchregelung von Rotorblättern einer Windkraftanlage, Beschleunigungssensor für ein Rotorblatt, Rotorblatt mit Beschleunigungssensor, ein Rotor einer Windkraftanlage und Windkraftanlagen. 
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 117 918 A1,
Anmeldedatum: 04.12.2014,
Veröffentlichungsdatum: 09.06.2016.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Verfahren zur Überwachung einer Windkraftanlage, Beschleunigungssensor für ein Rotorblatt, und Rotorblatt mit Beschleunigungssensor.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 117 916 A1,
Anmeldedatum: 04.12.2014,
Veröffentlichungsdatum: 09.06.2016.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Verfahren zur Überwachung einer Windkraftanlage, Verfahren zur Eiserkennung an einer Windkraftanlage, Beschleunigungssensor für ein Rotorblatt, Rotorblatt mit Beschleunigungssensor, und Profil für ein Rotorblatt.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 117 915 A1,
Anmeldedatum: 04.12.2014,
Veröffentlichungsdatum: 09.06.2016.

Müller, M.S.; Schmid, M.J. et al.:
Optisches Messsystem 1.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2016 116 065.2, 2016.

Müller, M.S. et al.:
Optisches Messsystem 2.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2016 117 191.3, 2016.

Müller, M.S. et al.:
Optisches Messsystem 3.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2016 118 136.6, 2016.

Müller, M.S. et al.:
Optisches Messsystem 5.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2016 117 190.5, 2016.

Müller, M.S.; Zelenka, F.:
Lichtleiter-Einspannvorrichtung, faseroptischer Sensor und Herstellungsverfahren.
Deutsches Patent: DE 10 2015 115 925 B3,
Anmeldedatum: 21.09.2015,
Veröffentlichungsdatum der Patenterteilung: 08.12.2016.

Müller, M.S.; Zelenka, F.:
Lichtleiter-Einspannvorrichtung, faseroptischer Sensor und Herstellungsverfahren.
Internationale Patentanmeldung WO 2017/050767 A1, PCT/EP 2016/072309,
Anmeldedatum: 20.09.2016,
Veröffentlichungsdatum: 30.03.2017.

Müller, M.S.; Zelenka, F.:
Sensorpatch und Verfahren zum Herstellen eines Sensorpatches.
Internationale Patentanmeldung WO 2017/050766 A1, PCT/EP 2016/072308,
Anmeldedatum: 20.09.2016,
Veröffentlichungsdatum: 30.03.2017.

Rößner, M.R.; Graf, M.A.; Jakobi, M.; Koch, A.W.; Weraneck, K.:
Optische Messung von Kräften und Drehmomenten in Getrieben.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2016 012 272.2,
Anmeldedatum: 14.10.2016.

Schardt, M.:
Statisches Fourier-Transformations-Spektrometer.
Internationale Patentanmeldung WO 2016/180551 A1, PCT/EP 2016/053829,
Anmeldedatum: 24.02.2016.
Veröffentlichungsdatum: 17.11.2016.

Schardt, M.:
Statisches Fourier-Transformations-Spektrometer.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 208 796 A1,
Anmeldedatum: 12.05.2015,
Veröffentlichungsdatum: 17.11.2016.

Tremmel, A.; Rauscher, M.S.:
Device and method for chromatic confocal examination of a sample.
Internationale Patentanmeldung WO 2017/045982 A1, PCT/EP 2016/071056,
Anmeldedatum: 07.09.2016,
Veröffentlichungsdatum: 23.03.2017.


Patente 2015:

 

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Method for compensating fibre-optic measuring systems and fibre-optic measuring system.
CN-Patentanmeldung Nr. CN 104508446 A,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 08.04.2015.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Method for compensation of fiber optic measurement systems and fiber optic measurement system.
US-Patentanmeldung Nr. US 2015/0144773 A1,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 28.05.2015.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Method for installation of sensors in rotor blades and installation apparatus.
US-Patentanmeldung Nr. US 2015/0113779 A1,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 30.04.2015.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Optical measurement system with polarization compensation, and corresponding method.
US-Patentanmeldung Nr. US 2015/0146192 A1,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 28.05.2015.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Optical measuring system comprising polarisation compensation, and corresponding method.
CN-Patentanmeldung Nr. CN 104508445 A,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 08.04.2015.

Buck, T.C.; Müller, M.S.; Wojtech, R.; Hoffmann, L.:
Verfahren zum Kompensieren parasitärer Reflexionen und Messvorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2012 100 733 B4,
Anmeldedatum: 30.01.2012,
Veröffentlichungsdatum: 01.08.2013,
Tag der Patenterteilung: 23.07.2015.

Hirth, F.; Buck, T.C.:
Schichtmessverfahren und Messvorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2010 016 462 B4,
Anmeldedatum: 15.04.2010,
Veröffentlichungsdatum: 20.10.2011,
Tag der Patenterteilung: 16.07.2015.

Müller, M.S.:
Faseroptischer Drucksensor und Verfahren.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 115 926 A1,
Anmeldedatum: 21.09.2015,
Veröffentlichungsdatum: 23.03.2017.

Müller, M.S.:
Faseroptischer Temperatursensor und Herstellungsverfahren für einen faseroptischen Temperatursensor.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 115 928 A1,
Anmeldedatum: 21.09.2015,
Veröffentlichungsdatum: 23.03.2017.

Müller, M.S.; Glück, M.:
Schienenmesssystem.
Deutsches Patent DE 10 2014 100 653 B4,
Anmeldedatum: 21.01.2014,
Veröffentlichungsdatum: 23.07.2015,
Tag der Patenterteilung: 21.01.2016.

Müller, M.S.; Schauß, T.; Rieger, F.:
Verfahren zum Ermitteln eines Werts für eine Eisansatzmenge an mindestens einem Rotorblatt einer Windkraftanlage und dessen Verwendung.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 122 933.1,
Anmeldedatum: 29.12.2015,
Veröffentlichungsdatum: 13.07.2017.

Müller, M.S.; Schmid, M.J.:
Blitzsensor.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 121 162.9,
Anmeldedatum: 04.12.2015.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Method for the individual pitch control of rotor blades of a wind turbine, and wind turbines.
Internationale Patentanmeldung WO 2016/087455 A1, PCT / EP2015/078237,
Anmeldedatum: 01.12.2015,
Veröffentlichungsdatum: 09.06.2016.

Müller, M.S.; Wojtech, R.; Buck T.C.:
Method and device for monitoring state of rotor blade.
CN-Patentanmeldung Nr. CN 104641107 A,
Anmeldedatum: 10.09.2013,
Veröffentlichungsdatum: 20.05.2015.

Müller, M.S.; Wojtech, R.; Buck T.C.:
Method and device for monitoring the state of rotor blades.
US-Patentanmeldung Nr. US 2015/0211969 A1,
Anmeldedatum: 10.09.2013,
Veröffentlichungsdatum: 30.07.2015.

Müller, M.S.; Zelenka, F.:
Lichtleiter-Einspannvorrichtung, faseroptischer Sensor und Herstellungsverfahren.
Deutsches Patent: DE 10 2015 115 925 B3,
Anmeldedatum: 21.09.2015,
Veröffentlichungsdatum der Patenterteilung: 08.12.2016.

Müller, M.S.; Zelenka, F.:
Sensorpatch und Verfahren zum Herstellen eines Sensorpatches.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 115 927 A1,
Anmeldedatum: 21.09.2015,
Veröffentlichungsdatum: 06.04.2017.

Rößner, M.R.:
Optical Waveguide Interferometer for Measuring Spectral Information.
Internationale Patentanmeldung WO 2015/176906 A1, PCT / EP2015/058746,
Anmeldedatum: 23.04.2015,
Veröffentlichungsdatum: 26.11.2015.

Rößner, M.R.:
Wellenleiterinterferometer zur Messung einer spektralen Information.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 107 101 A1,
Anmeldedatum: 20.05.2014,
Veröffentlichungsdatum: 26.11.2015.

Schardt, M.:
Statisches Fourier-Transformations-Spektrometer.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 208 796.4,
Anmeldedatum: 12.05.2015.

Tremmel, A.; Rauscher, M.S.:
Vorrichtung und Verfahren zur chromatisch-konfokalen Untersuchung einer Probe.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2015 115 615 A1,
Anmeldedatum: 16.09.2015,
Veröffentlichungsdatum: 16.03.2017.


Patente 2014:

 

Buck T.C.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung von Betriebszuständen von Rotorblättern.
Deutsches Patent DE 10 2012 108 776 A1,
Anmeldedatum: 18.09.2012,
Veröffentlichungsdatum: 20.03.2014.

Dorigo, D.; Wiesent, B.: 
Messvorrichtung und Verfahren zur Spektral auflösenden Messung elektromagnetischer Strahlung.
Deutsches Patent DE 10 2011 001 695 B4,
Anmeldedatum: 31.03.2011,
Veröffentlichungsdatum: 04.10.2012,
Tag der Patenterteilung: 25.09.2014.

Müller, M.S.; Buck, T.C.:
Faseroptischer Beschleunigungssensor mit Hebel.
Deutsches Patent DE 10 2013 101 432 A1,
Anmeldedatum: 13.02.2013,
Veröffentlichungsdatum: 14.08.2014.

Müller, M.S.; Glück, M.:
Schienenmesssystem.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 100 653.4, 
Anmeldedatum: 21.01.2014.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Verfahren zur Erfassung einer Torsionsinstabilität eines Rotorblatts einer Windkraftanlage und Profil für ein Rotorblatt.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 117 914.5,
Anmeldedatum: 04.12.2014.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Verfahren zur individuellen Pitchregelung von Rotorblättern einer Windkraftanlage, Beschleunigungssensor für ein Rotorblatt, Rotorblatt mit Beschleunigungssensor, ein Rotor einer Windkraftanlage und Windkraftanlagen. 
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 117 918.8,
Anmeldedatum: 04.12.2014.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Verfahren zur Überwachung einer Windkraftanlage, Beschleunigungssensor für ein Rotorblatt, und Rotorblatt mit Beschleunigungssensor.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 117 916.1,
Anmeldedatum: 04.12.2014.

Müller, M.S.; Schubert, M.:
Verfahren zur Überwachung einer Windkraftanlage, Verfahren zur Eiserkennung an einer Windkraftanlage, Beschleunigungssensor für ein Rotorblatt, Rotorblatt mit Beschleunigungssensor, und Profil für ein Rotorblatt.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2014 117 915.3,
Anmeldedatum: 04.12.2014.

Müller, M.S.; Wojtech, R.; Buck T.C.:
Method and device for monitoring operating states of rotor blades.
Internationales Patent WO 2014/044575 A1, PCT / EP 2013/068705,
Anmeldedatum: 10.09.2013,
Veröffentlichungsdatum: 27.03.2014.

Müller, M.S.; Wojtech, R.; Buck T.C.:
Method and device for monitoring the state of rotor blades.
CA-Patentanmeldung Nr. CA 2884973 A1,
Anmeldedatum: 10.09.2013,
Veröffentlichungsdatum: 27.03.2014.

Rößner, M.R.:
Wellenleiterinterferometer zur Messung einer spektralen Information.
Deutsches Patent DE 10 2014 107 101 A1,
Anmeldedatum: 20.05.2014,
Veröffentlichungsdatum: 26.11.2015.


Patente 2013:

 

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Method for compensating fibre-optic measuring systems and fibre-optic measuring system.
Internationales Patent WO 2013/182570 A1, PCT/EP2013/061503,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 12.12.2013.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Method for compensating fibre-optic measuring systems and fibre-optic measuring system.
CA-Patentanmeldung Nr. CA 2875739 A1,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 12.12.2013.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Method for compensating fibre-optic measuring systems and fibre-optic measuring system.
CN-Patentanmeldung Nr. CN 104508446 A,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 08.04.2015.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Method for compensation of fiber optic measurement systems and fiber optic measurement system.
US-Patentanmeldung Nr. US 2015/0144773 A1,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 28.05.2015.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Method for installation of sensors in rotor blades and installation apparatus.
US-Patentanmeldung Nr. US 2015/0113779 A1,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 30.04.2015.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Optical measurement system with polarization compensation, and corresponding method.
US-Patentanmeldung Nr. US 2015/0146192 A1,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 28.05.2015.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Optical measuring system comprising polarisation compensation, and corresponding method.
Internationales Patent WO 2013/182567 A2, PCT/EP2013/061499,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 12.12.2013.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Optical measuring system comprising polarisation compensation, and corresponding method.
CA-Patentanmeldung Nr. CA 2875740 A1,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 12.12.2013.

Buck, T.C.; Hoffmann, L.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Optical measuring system comprising polarisation compensation, and corresponding method.
CN-Patentanmeldung Nr. CN 104508445 A,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 08.04.2015.

Buck, T.C.; Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.:
Vorrichtung zum Umsetzen eines optischen Eingangssignals in ein elektrisches Ausgangssignal und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2009 014 478 B4,
Anmeldedatum: 23.03.2009,
Veröffentlichungsdatum: 30.09.2010,
Tag der Patenterteilung: 18.07.2013.

Müller, M.S.; Buck, T.C.:
Faseroptischer Beschleunigungssensor mit Hebel.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2013 101 432.1,
Anmeldedatum: 13.02.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Faseroptischer Kraftaufnehmer und optisches Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2012 104 884 A1,
Anmeldedatum: 05.06.2012,
Veröffentlichungsdatum: 05.12.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.: 
Method for installing sensors in rotor blades and installation device.
Internationales Patent WO 2013/182569 A1, PCT/EP2013/061501,
Anmeldedatum: 04.06.2013,
Veröffentlichungsdatum: 12.12.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Optisches Messsystem mit Polarisationskompensation, sowie entsprechendes Verfahren.
Deutsches Patent DE 10 2012 104 874 A1,
Anmeldedatum: 05.06.2012,
Veröffentlichungsdatum. 05.12.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Verfahren zum Kompensieren parasitärer Reflexionen und Messvorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2012 100 733 A1,
Anmeldedatum: 30.01.2012,
Veröffentlichungsdatum: 01.08.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Verfahren zur Installation von Sensoren in Rotorblättern und Installationsvorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2012 104 875 A1,
Anmeldedatum: 05.06.2012,
Veröffentlichungsdatum: 05.12.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Verfahren zur Kompensation von faseroptischen Messsystemen und faseroptisches Messsystem.
Deutsches Patent DE 10 2012 104 877 A1,
Anmeldedatum: 05.06.2012,
Veröffentlichungsdatum: 05.12.2013.

Müller, M.S.; Wojtech, R.; Buck T.C.:
Method and device for monitoring operating states of rotor blades.
Internationales Patent WO 2014/044575 A1, PCT / EP 2013/068705,
Anmeldedatum: 10.09.2013,
Veröffentlichungsdatum: 27.03.2014. 

Müller, M.S.; Wojtech, R.; Buck T.C.:
Method and device for monitoring state of rotor blade.
CN-Patentanmeldung Nr. CN 104641107 A,
Anmeldedatum: 10.09.2013,
Veröffentlichungsdatum: 20.05.2015.

Müller, M.S.; Wojtech, R.; Buck T.C.:
Method and device for monitoring the state of rotor blades.
US-Patentanmeldung Nr. US 2015/0211969 A1,
Anmeldedatum: 10.09.2013,
Veröffentlichungsdatum: 30.07.2015.

Müller, M.S.; Wojtech, R.; Buck T.C.:
Method and device for monitoring the state of rotor blades.
CA-Patentanmeldung Nr. CA 2884973 A1,
Anmeldedatum: 10.09.2013,
Veröffentlichungsdatum: 27.03.2014.


Patente 2012:

 

Buck T.C.; Müller, M.S.; Wojtech, R.:
Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung von Betriebszuständen von Rotorblättern.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2012 108 776.8,
Anmeldedatum: 18.09.2012.

Dorigo, D.; Wiesent, B.: 
Messvorrichtung und Verfahren zur Spektral auflösenden Messung elektromagnetischer Strahlung.
Deutsches Patent DE 10 2011 001 695 B4,
Anmeldedatum: 31.03.2011,
Veröffentlichungsdatum: 04.10.2012,
Tag der Patenterteilung: 25.09.2014.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Faseroptischer Kraftaufnehmer und optisches Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2012 104 884 A1,
Anmeldedatum: 05.06.2012,
Veröffentlichungsdatum: 05.12.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Optisches Messsystem mit Polarisationskompensation, sowie entsprechendes Verfahren.
Deutsches Patent DE 10 2012 104 874 A1,
Anmeldedatum: 05.06.2012,
Veröffentlichungsdatum. 05.12.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Verfahren zum Kompensieren parasitärer Reflexionen und Messvorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2012 100 733 A1,
Anmeldedatum: 30.01.2012,
Veröffentlichungsdatum: 01.08.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Verfahren zur Installation von Sensoren in Rotorblättern und Installationsvorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2012 104 875 A1,
Anmeldedatum: 05.06.2012,
Veröffentlichungsdatum: 05.12.2013.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Buck, T.C.; Wojtech, R.:
Verfahren zur Kompensation von faseroptischen Messsystemen und faseroptisches Messsystem.
Deutsches Patent DE 10 2012 104 877 A1,
Anmeldedatum: 05.06.2012,
Veröffentlichungsdatum: 05.12.2013.


Patente 2011:

 

Bodendorfer, T.; Hirth, F.:
Verfahren und Anordnung zum Messen der Dicke einer Schicht.
Deutsches Patent DE 10 2010 006 237 A1,
Anmeldedatum: 26.01.2010,
Veröffentlichungsdatum: 28.07.2011.

Bodendorfer, T.; Hirth, F.:
Verfahren und Anordnung zum Messen der Dicke einer Schicht.
Internationales Patent WO 2011/092053 A1, PCT/EP 2011/050264,
Anmeldedatum: 11.01.2011,
Veröffentlichungsdatum: 04.08.2011.

Buck, T.C.; Müller, M.S.:
Vorrichtung zum Auslesen eines spektral selektiven Messaufnehmers und Messvorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2009 040 885 A1,
Anmeldedatum: 09.09.2009,
Veröffentlichungsdatum: 10.03.2011.

Buck, T.C.; Müller, M.S.:
Vorrichtung zum Auslesen eines spektral selektiven optischen Messaufnehmers und Messvorrichtung.
Internationales Patent WO 2011/029884 A1, PCT/EP2010/063261,
Anmeldedatum: 09.09.2010,
Veröffentlichungsdatum: 17.03.2011.

Buck, T.C.; Müller, M.S.; Koch, A.W.:
Optisches Tiefpassfilter und Verfahren zum Optischen Filtern.
Deutsches Patent DE 10 2009 041 507 A1,
Anmeldedatum: 14.09.2009,
Veröffentlichungsdatum: 31.03.2011.

Dorigo, D.; Wiesent, B.:  
Messvorrichtung und Verfahren zur Spektral auflösenden Messung elektromagnetischer Strahlung.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2011 001 695.3,
Anmeldedatum: 31.03.2011.

Hirth, F.; Buck, T.C.:
Schichtmessverfahren und Messvorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2010 016 462 B4,
Anmeldedatum: 15.04.2010,
Veröffentlichungsdatum: 20.10.2011,
Tag der Patenterteilung: 16.07.2015.

Koch, A.W.; Salazar, F.; Werth, N.:
Rauheits-Messvorrichtung und -Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2010 037 207 B3,
Anmeldedatum: 27.08.2010.
Tag der Patenterteilung: 03.11.2011.

Müller, M.S.; Koch, A.W.:
Elektrophorese-Messvorrichtung und Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2009 033 426 A1,
Anmeldedatum: 16.07.2009,
Veröffentlichungsdatum: 03.02.2011.

Puente León, F.; Pérez Grassi, A. et al.:
Automatisches Sichtprüfsystem zur Erkennung von Defekten auf gefertigten Oberflächen.
Deutsches Patent DE 10 2010 047 499 A1,
Anmeldedatum: 04.10.2010,
Veröffentlichungsdatum: 13.10.2011.


Patente 2010:

 

Bodendorfer, T.; Hirth, F.:
Verfahren und Anordnung zum Messen der Dicke einer Schicht.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2010 006 237.5,
Anmeldedatum: 26.01.2010.

Buck, T.C.; Müller, M.S.:
Vorrichtung zum Auslesen eines spektral selektiven optischen Messaufnehmers und Messvorrichtung.
Internationales Patent WO 2011/029884 A1, PCT/EP2010/063261,
Anmeldedatum: 09.09.2010,
Veröffentlichungsdatum: 17.03.2011.

Buck, T.C.; Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.:
Vorrichtung zum Umsetzen eines optischen Eingangssignals in ein elektrisches Ausgangssignal und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2009 014 478 B4,
Anmeldedatum: 23.03.2009,
Veröffentlichungsdatum: 30.09.2010,
Tag der Patenterteilung: 18.07.2013.

Endisch, P.; Kirchensteiner, E.; Koch, A.W.:
Anordnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern.
Deutsches Patent DE 10 2008 019 500 B4,
Anmeldedatum: 17.04.2008,
Veröffentlichungsdatum: 16.04.2009,
Tag der Patenterteilung: 02.06.2010.

Hirth, F.; Buck, T.C.:
Schichtmessverfahren und Messvorrichtung.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2010 016 462.3,
Anmeldedatum: 15.04.2010.

Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.:
Interferometry method for optically examining coatings.
Internationales Patent WO 2010/46340 A1, PCT / EP 2009/063659,
Anmeldedatum: 19.10.2009,
Veröffentlichungsdatum: 29.04.2010.

Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.:
Verfahren zum optischen Untersuchen von Schichten.
Deutsches Patent DE 10 2009 025 562 A1,
Anmeldedatum: 12.06.2009,
Veröffentlichungsdatum: 29.04.2010.

Hoffmann, L.; Koch, A.W.; Müller, M.S.:
Faseroptische Messvorrichtung und Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2009 013 795 A1,
Anmeldedatum: 18.03.2009,
Veröffentlichungsdatum: 23.09.2010.

Koch, A.W.; Salazar, F.; Werth, N.:
Rauheits-Messvorrichtung und -Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2010 037 207.2,
Anmeldedatum: 27.08.2010.
Tag der Patenterteilung: 03.11.2011.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Lautenschlager, T.; Koch, A.W.:
Force-Moment Sensor.
US-Patentanmeldung Nr. US 2010/0272384 A1,
Anmeldedatum: 05.05.2010,
Veröffentlichungsdatum: 28.10.2010.

Müller, M.S.; Wiesent, B.R.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.:
Faseroptischer Drehwinkelsensor.
Deutsches Patent DE 10 2008 035 996 A1,
Anmeldedatum: 01.08.2008,
Veröffentlichungsdatum: 04.02.2010.

Puente León, F.; Pérez Grassi, A. et al.:
Automatisches Sichtprüfsystem zur Erkennung von Defekten auf gefertigten Oberflächen.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2010 047 499.1,
Anmeldedatum: 04.10.2010.

Puente León, F.; Pérez Grassi, A. et al.:
Sistema de visión artificial para la detección de defectos en superficies acabadas.
Spanische Patentanmeldung: ES201030520,
Anmeldedatum: 12.04.2010.


Patente 2009:

 

Buck, T.C.; Müller, M.S.:
Vorrichtung zum Auslesen eines spektral selektiven Messaufnehmers und Messvorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2009 040 885 A1,
Anmeldedatum: 09.09.2009,
Veröffentlichungsdatum: 10.03.2011.

Buck, T.C.; Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.:
Vorrichtung zum Umsetzen eines optischen Eingangssignals in ein elektrisches Ausgangssignal und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2009 014 478 B4,
Anmeldedatum: 23.03.2009,
Veröffentlichungsdatum: 30.09.2010,
Tag der Patenterteilung: 18.07.2013.

Buck, T.C.; Müller, M.S.; Koch, A.W.:
Optisches Tiefpassfilter und Verfahren zum Optischen Filtern.
Deutsches Patent DE 10 2009 041 507 A1,
Anmeldedatum: 14.09.2009,
Veröffentlichungsdatum: 31.03.2011.

Endisch, P.; Kirchensteiner, E.; Koch, A.W.:
Anordnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern.
Internationales Patent WO 2009/039920 A1, PCT/EP 2008/006741,
Anmeldedatum: 16.08.2008,
Veröffentlichungsdatum: 02.04.2009.

Endisch, P.; Kirchensteiner, E.; Koch, A.W.:
Anordnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern.
Deutsches Patent DE 10 2008 019 500 B4,
Anmeldedatum: 17.04.2008,
Veröffentlichungsdatum: 16.04.2009,
Tag der Patenterteilung: 02.06.2010.

Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.:
Interferometry method for optically examining coatings.
Internationale Patentanmeldung WO 2010/46340, PCT / EP 2009/063659,
Anmeldedatum: 19.10.2009.

Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.:
Verfahren zum optischen Untersuchen von Schichten.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2009 025 562.1,
Anmeldedatum: 12.06.2009.

Hoffmann, L.; Koch, A.W.; Müller, M.:
Faseroptische Messvorrichtung und Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2009 013 795 A1,
Anmeldedatum: 18.03.2009,
Veröffentlichungsdatum: 23.09.2010.

Monti, G.:
Lichtquelle zur linearen Ausleuchtung von transparenten Informationsträgern in digitalen Abtastsystemen.
Deutsches Patent DE 10 2008 025 194 A1,
Anmeldedatum: 27.05.2008,
Veröffentlichungsdatum: 03.12.2009.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Lautenschlager, T.; Koch, A.W.:
Kraft-Momenten-Sensor.
Internationales Patent WO 2009/059754 A1, PCT/EP 2008/009318,
Anmeldedatum: 05.11.2008,
Veröffentlichungsdatum: 14.05.2009

Müller, M.S.; Koch, A.W.:
Elektrophorese-Messvorrichtung und Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2009 033 426 A1,
Anmeldedatum: 16.07.2009,
Veröffentlichungsdatum: 03.02.2011.

Perez Grassi, A.; Monti, G.:
Vorrichtung zur automatischen Analyse von Oberflächen im Beleuchtungshalbraum.
Deutsches Patent DE 10 2008 006 527 A1,
Anmeldedatum: 29.01.2008,
Veröffentlichungsdatum: 30.07.2009.


Patente 2008:

 

Endisch, P.; Kirchensteiner, E.; Koch, A.W.:
Anordnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern.
Deutsches Patent DE 10 2008 019 500 B4,
Anmeldedatum: 17.04.2008,
Veröffentlichungsdatum: 16.04.2009,
Tag der Patenterteilung: 02.06.2010.

Endisch, P.; Kirchensteiner, E.; Koch, A.W.:
Anordnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern.
Internationales Patent WO 2009/039920 A1, PCT/EP 2008/006741,
Anmeldedatum: 16.08.2008,
Veröffentlichungsdatum: 02.04.2009.

Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.:
Spektrales Reflektometer zur Bestimmung optischer Parameter an bewegten Objekten.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2008 052 379.8, 2008.

Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.:
Weisslichtinterferometer zur Bestimmung optischer Parameter an bewegten Objekten.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2008 052 430.1,
Anmeldedatum: 21.10.2008.

Monti, G.:
Lichtquelle zur linearen Ausleuchtung von transparenten Informationsträgern in digitalen Abtastsystemen.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2008 025 194.1,
Anmeldedatum: 27.05.2008.

Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Lautenschlager, T.; Koch, A.W.:
Kraft-Momenten-Sensor.
Internationales Patent WO 2009/059754 A1, PCT/EP 2008/009318,
Anmeldedatum: 05.11.2008,
Veröffentlichungsdatum: 14.05.2009.

Müller, M.S.; Wiesent, B.R.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.:
Faseroptischer Drehwinkelsensor.
Deutsches Patent DE 10 2008 035 996 A1,
Anmeldedatum: 01.08.2008,
Veröffentlichungsdatum: 04.02.2010.

Perez Grassi, A.; Monti, G.:
Vorrichtung zur automatischen Analyse von Oberflächen im Beleuchtungshalbraum.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2008 006 527.7,
Anmeldedatum: 29.01.2008.